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Zeta电位仪/纳米粒度仪

产地及技术参数

英国Malvern公司

功能

*为研究胶体和聚合物提供综合测量三项最重要参数的，即粒度、zeta电位和分子量。
*粒度: NIBS专利技术可以对0.6纳米至6微米的颗粒和分子进行测量。
*-Zeta电位: M3-PALS专利技术能够对水分散和非水分散体系中的zeta电位进行精确的测量。
*分子量: 高灵敏度APD检测器和特殊设计的光纤检测光学装置提供测量绝对分子量所需的灵敏度和稳定性。

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